理学XRF ZSX Primus IV

理学Rigaku 波长色散X射线荧光光谱仪
固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
作为管状上照射波长色散X射线荧光（WDXRF）光谱仪，理学ZSX PrimusIV在各种样品类型中快速定量测定从铍（Be）到铀（U）的主要和次要原子元素

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产品详情

ZSX Primus IV概述

新的ZSX指导专家系统XRF软件

ZSX Guidance在XRF测量和数据分析的各个方面为您提供支持。只有专家才能进行准确的分析吗？不——那是过去。ZSX Guidance软件内置XRF专业知识和熟练专家的诀窍，可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品、分析组件和标准组成的基本信息。重叠最少的测量线、最佳背景和校正参数（包括线重叠）在定性光谱的帮助下自动设置。

出色的光元件XRF性能与倒置光学，具有卓越的可靠性

ZSX PrimusIV具有创新的光学配置。再也不担心因样品室维护而导致的受污染的光束路径或停机时间。光学-上面的几何形状消除了清洁的担忧，并增加了正常使用时间。ZSX PrimusIV WDXRF光谱仪具有分析最复杂样品的卓越性能和灵活性，具有30微米管，这是业内最薄的端窗管，具有特殊的光元素（低Z）检测限。

映射和多点XRF分析

结合最先进的测绘包来检测均匀性和夹杂物，ZSX PrimusIV可以对样品进行简单的详细XRF光谱调查，这些样品提供了其他分析方法不容易获得的分析见解。可用的多点分析也有助于消除不均匀材料的取样误差。

EZ扫描软件的SQX基本参数

EZ-scan允许用户对未知样本进行XRF元素分析，而无需任何事先设置。此节省时间功能只需单击几下鼠标并输入示例名称即可。结合SQX基本参数软件，它提供了最准确、最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有矩阵效果，包括线重叠。SQX还可以通过光电子（轻和超轻元素）、不同的大气、杂质和不同的样品大小来校正二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序来提高准确性。